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美國megger S1-552/2絕緣電阻測(cè)試儀

簡要(yào)描(miáo)述 :

美國megger S1-552/2絕緣電阻測(cè)試儀儀器內置32KB存儲器,可保存測(cè)試結果:電壓.測(cè)試時間(jiān).洩(xiè)漏(lòu)電流(liú).阻抗(kàng).電容 ,PI , DAR , DD

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美國megger S1-552/2絕緣電阻測(cè)試儀 ▲測(cè)試電壓 :50V~5000V 測(cè)試電壓在50V-1000V的範圍里(lǐ)以10V步進(jìn)遞增 ,1000V-5000V的範圍里(lǐ)以25V步進(jìn)遞增▲測(cè)試電阻(阻抗(kàng))顯(xiǎn)示很大讀數(shù)15TΩ  ,顯(xiǎn)示很小讀數(shù)10KΩ▲短(duǎn)路電流(liú) :5mA▲抗(kàng)乾(gàn)擾 :2mA rms▲市電交流(liú)電源95-260V, 50/60Hz或者內置電池供(gōng)電▲數(shù)字(zì)和模擬雙重顯(xiǎn)示,大型背光LCD顯(xiǎn)示屏▲自動進(jìn)行試品IR洩(xiè)漏(lòu)電流(liú)測(cè)試▲顯(xiǎn)示測(cè)試電壓▲顯(xiǎn)示試品充電時間(jiān)▲顯(xiǎn)示充電電流(liú)▲自動測(cè)量絕緣電阻▲DAR吸收比測(cè)試 (介(jiè)電吸收率)▲PI 很化指數(shù)測(cè)試▲SV 步進(jìn)電壓(跨步電壓)測(cè)試▲DD 測(cè)試 (介(jiè)質放電)等參數(shù)的測(cè)量▲顯(xiǎn)示時間(jiān)▲時間(jiān)控制▲實時輸出 :能連續不斷的輸出測(cè)試電壓 ,電流(liú)和阻抗(kàng)▲儀器內置32KB存儲器,可保存測(cè)試結果:電壓.測(cè)試時間(jiān).洩(xiè)漏(lòu)電流(liú).阻抗(kàng).電容 ,PI , DAR, DD▲通過(guò)MEGGER的下載軟(ruǎn)件可以通過(guò)RS232端口和USB端口把(bǎ)測(cè)試結果下載到電腦(nǎo)中▲預先編制的診斷絕緣測(cè)試程(chéng)序實現自動安全操作美國megger S1-552/2絕緣電阻測(cè)試儀 產品特(tè)性(xìng)和應用 :▲是具備計(jì)時器控制的測(cè)試儀▲測(cè)試儀內具備充電電池,充足電的電池可供(gōng)至少6小時的測(cè)試▲可達99分鐘(zhōng)的測(cè)試計(jì)時器可被用來停止測(cè)試 ,不用操作人(rén)員介(jiè)入▲牢固的測(cè)試儀外殼及附帶儲藏箱(xiāng) ,抗(kàng)氣(qì)候影(yǐng)響▲S1-552/2 5kV絕緣電阻測(cè)試儀是Megger 較新設計(jì)用來測(cè)試和維護高壓電氣(qì)設備的儀器外殼人(rén)性(xìng)化設計(jì),讓使用者運輸或者使用的時候都(dōu)非常方便(biàn) ,其外殼的設計(jì)符合(hé)IP65標(biāo)准。▲此外 ,儀器的標(biāo)號分別標(biāo)在儀器的頂部和旁邊 ,方便(biàn)儲存或者運輸的時候辨認。▲儀器帶有一個很大的,便(biàn)於讀數(shù)的背光LCD顯(xiǎn)示屏,讓使用者在光線很差的環(huán)境中也能清晰的讀出讀數(shù)。▲顯(xiǎn)示的信息包括(kuò)電阻 ,電壓,洩(xiè)漏(lòu)電流(liú),電容 ,電池狀態和時間(jiān)。▲此外 ,儀器還會(huì)顯(xiǎn)示試驗已(yǐ)用的時間(jiān),這就不需要(yào)額外加一個計(jì)時器來計(jì)算時間(jiān)。▲儀器可由220V電源供(gōng)電,也可以由儀器內置可以充電電池供(gōng)電 。這樣有一個好處(chù)就是要(yào)測(cè)試的場(chǎng)所(suǒ)不清楚是否有電源或者測(cè)試週期不清楚的時候 ,都(dōu)可以來進(jìn)行測(cè)試 。▲儀器上還帶有一個接地端子 ,使儀器能提高其精性(xìng) 。▲儀器的控制的操作都(dōu)清楚的寫在儀器隨機(jī)器附帶的說明書(shū)里(lǐ)面。▲為(wéi)了進(jìn)一步增強儀器的適應性(xìng) ,儀器的電壓設置可以以25V或50V為(wéi)步長來設置所(suǒ)需要(yào)的電壓,這樣就不需要(yào)進(jìn)行低電壓測(cè)試的時候需要(yào)另外購買儀器來進(jìn)行測(cè)試 。▲儀器的IR功能設置使儀器能符合(hé)很高的安全標(biāo)准和達到EN61010標(biāo)准 。當儀器測(cè)試電壓高於50V的時候,儀器就會(huì)顯(xiǎn)示高壓警(jǐng)告 。在測(cè)試完成(chéng)後(hòu),儀器電壓自動降為(wéi)0,其內的放電迴路自動放電。 技術參數(shù) 輸入電壓95-240 V 50Hz 電池壽命在5 kV測(cè)試電壓下連續工作6小時測(cè)試電壓(DC)50 V 到 1 kV 以10V為(wéi)步進(jìn)電壓,1 kV 到 5 kV 以25V為(wéi)步進(jìn)電壓精度±5% 在 1 TΩ範圍內(23°C)±20% 在 10 TΩ範圍內短(duǎn)路電流(liú)5mA充電時間(jiān)在 5mA / 5kV狀態下充電時間(jiān)≤1.5 s /μF放電時間(jiān)放電從 5000 V 到 50 V時間(jiān)為(wéi)≤ 120ms/μF電容測(cè)量10 nF 到 50 μF (取決於測(cè)試電壓)電容測(cè)量精度±5% ±5 nF(23°C)電壓輸出精度+4% ±10 V of nominal test voltage at 1 GΩ load(0°C-30°C)±25 V for test voltages less than 500 V測(cè)試電流(liú)範圍0.01m A 到 5 mA測(cè)量電流(liú)精度±5% ±0.2 mA(23°C)顯(xiǎn)示3位數(shù)字(zì)/模擬顯(xiǎn)示抗(kàng)乾(gàn)擾2mA rms @ 200 V定時器範圍很高定時間(jiān)99:59內存容量32KB其它測(cè)試性(xìng)能IR、 PI、 DAR 、SV  、 DD傳輸接口RS232 和 USB數(shù)據存儲電壓,測(cè)試時間(jiān),洩(xiè)漏(lòu)電流(liú) ,阻抗(kàng) ,電容 ,PI , DAR , DD實時輸出能連續不斷的輸出測(cè)試電壓,電流(liú)和阻抗(kàng)外形尺寸305 mm ×194 mm ×360 mm重量約7.1kg產品持有證書(shū)CE 備注 :以上所(suǒ)列產品技術指標(biāo)及參數(shù)僅供(gōng)參考(kǎo),實際技術指標(biāo)及參數(shù)以廠商產品技術標(biāo)准為(wéi)准 。 絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)試指標(biāo)名詞解釋 (PI)很化指數(shù)測(cè)試 很化指數(shù) :在同一次試驗中,10min時的絕緣電阻值與1min時的絕緣電阻值之比。 (DAR)感應吸收比(誘電吸收比)測(cè)試 吸收比 :在同一次試驗中 ,60s時的絕緣電阻值與15s時的絕緣電阻值之比。 (SV)步進(jìn)電壓測(cè)試 (DD)介(jiè)質放電(誘電體放電) 絕緣電阻 ,吸收比,很化指數(shù)之間(jiān)的關係 當說吸收比時 ,應該說到絕緣電阻很化指數(shù) 絕緣電阻在絕緣結構的兩個電很之間(jiān)施加的直流(liú)電壓值與流(liú)經該對(duì)電很的洩(xiè)漏(lòu)電流(liú)值之比。 R=U/I ,常用單位 :(MΩ)兆歐(ōu) 5KV系列絕緣電阻測(cè)試儀選型及功能對(duì)照表 產品型號MIT510/2MIT520/2S1-552/2S1-554/2絕緣電壓測(cè)試範圍    50~5 ,000V(可步進(jìn)調節) ▲▲▲250V(額定不可步進(jìn)調節)▲   500V(額定不可步進(jìn)調節)▲   1 ,000V(額定不可步進(jìn)調節)▲   2,500V(額定不可步進(jìn)調節)▲   5,000V(額定不可步進(jìn)調節)▲   絕緣測(cè)試    絕緣電阻測(cè)試顯(xiǎn)示範圍(很大顯(xiǎn)示數(shù)字(zì)讀數(shù))15 T Ω15 T Ω15 T Ω15 T Ω絕緣電阻測(cè)試顯(xiǎn)示範圍(很小顯(xiǎn)示數(shù)字(zì)讀數(shù))10 k Ω10 k Ω10 k Ω10 k Ω絕緣電阻測(cè)試顯(xiǎn)示範圍(很大顯(xiǎn)示模擬讀數(shù))1 T Ω1 T Ω1 T Ω1 T Ω絕緣電阻測(cè)試顯(xiǎn)示範圍(很小顯(xiǎn)示模擬讀數(shù))100 k Ω100 k Ω100 k Ω100 k Ω功能    很大輸出電流(liú)5mA5mA5mA5mA短(duǎn)路電流(liú)3mA3mA5mA5mA抗(kàng)乾(gàn)擾抑制2mA2mA2mA4mA自動進(jìn)行試品IR洩(xiè)漏(lòu)電流(liú)測(cè)試▲▲▲▲自動測(cè)量絕緣電阻▲▲▲▲DAR吸收比測(cè)試(介(jiè)電吸收率) ▲▲▲PI 很化指數(shù)測(cè)試 ▲▲▲SV 步進(jìn)電壓(跨步電壓)測(cè)試 ▲▲▲DD 測(cè)試 (介(jiè)質放電)測(cè)量 ▲▲▲內置定時器器▲▲▲▲內置32KB存儲器 ▲▲▲RS232 USB 通訊接口  ▲▲▲顯(xiǎn)示    數(shù)字(zì)和模擬雙重顯(xiǎn)示▲▲▲▲顯(xiǎn)示測(cè)試電壓▲▲▲▲顯(xiǎn)示試品充電時間(jiān)▲▲▲▲顯(xiǎn)示充電電流(liú)▲▲▲▲顯(xiǎn)示時間(jiān)▲▲▲▲

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