X螢光元素分析儀是一種比(bǐ)較新型的(de)可(kě)以對(duì)多元素進行快速同時測定的(de)儀器。在X射線激(jī)發下(xià) ，被測元素原子的(de)內層(céng)電子發生能(néng)級(jí)躍遷而發出次級(jí)X射線（X-螢光）。

　　X射線是一種波長(zhǎng)較短的(de)電磁(cí)輻射 ，通常是指(zhǐ)能(néng)量範圍在0.1~100keV的(de)光子 。X射線與物(wù)質的(de)相互作用主要有螢光 、吸收和散(sàn)射三種 。

　　X螢光元素分析儀的(de)原理(lǐ)基(jī)於原子受到X射線的(de)作用，其內層(céng)電子被激(jī)發 ，形成(chéng)空(kōng)穴，原子處(chù)於不穩定的(de)激(jī)發態(tài) 。為了回到穩態(tài) ，原子的(de)外層(céng)電子會躍遷回內層(céng) ，多餘(yú)的(de)能(néng)量以螢光形式釋放(fàng)出來(lái) ，被偵測器檢測到 ，通過(guò)此來(lái)做分析 。通常，可(kě)以將X螢光元素分析儀可(kě)分為波長(zhǎng)色(sè)散(sàn)性(xìng)和能(néng)量色(sè)散(sàn)性(xìng)。X螢光元素分析儀在日常的(de)分析工作中(zhōng) ，XRF這種分析方法經常會出現共元素干擾。這種共元素干擾的(de)問題主要起(qǐ)源於X螢光射線偵測器對(duì)於X螢光射線的(de)分辨率的(de)限(xiàn)制所致，只要是XRF都會遭遇到相同的(de)問題。共元素干擾主要分為三類 ：兩(liǎng)相近共元素干擾 、逃離波峰 、加乘波峰 。

　　1、兩(liǎng)相近共元素干擾

　　由於兩(liǎng)元素在能(néng)譜(pǔ)圖上的(de)位置相近，以至(zhì)於偵測器無法分別出兩(liǎng)者之(zhī)間的(de)差距。如鉛(La10.55Kev) 、砷(Ka10.54Kev)
。

　　2 、逃離波峰

　　由於某元素的(de)濃度異常高 ，此時發出大量X螢光射線 ，而偵測器無法及時處(chù)理(lǐ)，將在此元素的(de)能(néng)譜(pǔ)位置前一個硅Ka的(de)能(néng)譜(pǔ)距離多出一根小(xiǎo)波峰而造成(chéng)誤判，但情形極(jí)少出現。如錫(Ka25.27Kev)-硅(Ka1.74Kev)=23.53Kev≈鎘(Ka23.17Kev)。

　　3、加乘波峰

　　由於某元素的(de)濃度異常高，此時發出大量X螢光射線，而偵測器無法及時處(chù)理(lǐ)，將在能(néng)譜(pǔ)兩(liǎng)倍的(de)位置上出現一根波峰 。如大量的(de)鐵(Ka6.4Kev) ，會在能(néng)譜(pǔ)12.8Kev處(chù)出一根小(xiǎo)波峰 。造成(chéng)誤判 。但此種情形極(jí)為少見 。

　　以上便是今天關(guān)於X螢光元素分析儀的(de)干擾因(yīn)素主要有三方面的(de)全部分享了 ，希望對(duì)大家今後使用本設備能(néng)有幫(xiàn)助 。