紫外螢光硫分析(xī)儀廣泛(fàn)應用於檢測(cè)液體 、固(gù)體或氣(qì)體樣品中(zhōng)的硫含量(liàng)。與國(guó)內外同(tóng)類儀器相比(bǐ) ，具有(yǒu)性能穩(wěn)定(dìng)可(kě)靠，分析(xī)精度高，重復性好等特點。

　　樣品中(zhōng)的總硫含量(liàng)是(shì)通過紫外螢光的方法被快速測(cè)定(dìng)的 。高精度的數採卡和計算機技術(shù)的應用為數據(fù)的採集、控制、處理提(tí)供了可(kě)靠的保證。

　　儀器系(xì)統採用紫外螢光法測(cè)定(dìng)總硫含量(liàng) ，提(tí)高了抗雜質干擾的能力 ，避免了電量(liàng)法對滴定(dìng)池(chí)的繁鎖操(cāo)作(zuò)和因(yīn)此帶來的不穩(wěn)定(dìng)因(yīn)素 ，使(shǐ)得(dé)儀器的靈敏度大為提(tí)高。系(xì)統關鍵(jiàn)部件採用進口(kǒu)器件，使(shǐ)得(dé)整機性能有(yǒu)了可(kě)靠的保證 。

　　紫外螢光硫分析(xī)儀可(kě)測(cè)樣品狀態(tài)：液體 、氣(qì)體（配相應進樣器），PMT高壓範圍 ：DC500V～900V,根據(fù)測(cè)量(liàng)濃度的高低，通過操(cāo)作(zuò)系(xì)統設置所(suǒ)需(xū)值 。

　　用螢光強度比(bǐ)率分析(xī)方法,溫度、氣(qì)壓自動修正,碳氫比(bǐ)亦可(kě)修正 ，判斷(duàn)儀器的工(gōng)作(zuò)狀態(tài)和電氣(qì)參數 ，待測(cè)樣時 ,自動伸出機體外 ,置放樣品及更換防(fáng)漏油部件十分方便 ,又避免探測(cè)系(xì)統被污(wū)染的可(kě)能，紫外螢光硫分析(xī)儀數據(fù)存儲量(liàng)大 ,含量(liàng)分析(xī)結果和標定(dìng)工(gōng)作(zuò)曲線參數隨時可(kě)查 ，採用熱敏打印機,更換打印紙(zhǐ)簡單便捷,也省(shěng)去了打印色帶耗材。節省(shěng)標樣及氣(qì)體的用量(liàng) ，高激發效率端窗X光管，大面積探測(cè)器，良(liáng)好的散熱 ，有(yǒu)力的確保測(cè)試的穩(wěn)定(dìng) ，上照式設計省(shěng)去了傳統保護膜 ，提(tí)高測(cè)試精度，避免樣品污(wū)染光管和探測(cè)器鈹窗 。

　　紫外螢光硫分析(xī)儀都有(yǒu)其特定(dìng)的能級結構(gòu)，其核外電子都以各(gè)自*的能量(liàng)在各(gè)自的固(gù)定(dìng)軌道上運行 ，內層(céng)電子在足(zú)夠能量(liàng)的X射線照射下(xià)脫離(lí)原子的束縛，成為自由電子 ，我們說原子被激發了，其他的外層(céng)電子便會填補這(zhè)一(yī)空位 ，也就是(shì)所(suǒ)謂躍遷，同(tóng)時以發出X射線的形式放出能量(liàng) 。由於每一(yī)種元素的原子能級結構(gòu)都是(shì)特定(dìng)的 ，它被激發後躍遷時放出的X射線的能量(liàng)也是(shì)特定(dìng)的。紫外螢光硫分析(xī)儀以微電流放大 、計算機數據(fù)處理，即可(kě)轉換為與光強度成正比(bǐ)的電信號。此化學發光的強度與NO成正比(bǐ)，而NO的生(shēng)成量(liàng)又與樣品中(zhōng)的總氮含量(liàng)成正比(bǐ) ，故可(kě)以通過測(cè)定(dìng)化學發光的強度來測(cè)定(dìng)樣品中(zhōng)的的總含量(liàng)。