日(rì)本KYORITSU(共立)接(jiē)地電阻(zǔ)測量(liàng)原(yuán)則 ：

運用此原(yuán)則能使接(jiē)地電阻(zǔ)測量(liàng)帶有電位降法——

通過被測物(wù)的"E" (接(jiē)地電極) 和(hé) "H(C)" (供電電極)間的交(jiāo)流恆電“I”得(dé)到接(jiē)地電阻(zǔ)值"Rx" ，

發現"E" (接(jiē)地電極)和(hé) "S(P)" (測量(liàng)電極)間的位差"V" 。

                       簡(jiǎn)化測試（2線）                                                                                        測量(liàng)（3線）

測量(liàng)（4線）